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インターン・仕事体験 応募受付中
28卒夏_＜8/24〜9/4＞【電子顕微鏡分野】FIB/SEM向け低加速イオンビームシステムの開発_42061
株式会社日立製作所設計・開発職（メカ、部品等） · 28卒
株式会社日立製作所
ソフトウェア・情報処理 / 機械 / 電気・電子機器 / その他メーカー / エネルギー
28年就職：インターン・仕事体験
設計・開発職（メカ、部品等）
28卒夏_＜8/24〜9/4＞【電子顕微鏡の設計開発】半導体向け電子顕微鏡の応用技術開発_42060
- 募集職種
- 設計・開発職（メカ、部品等）
- 対象資格
- 2028年修了見込みの方 修士
- 対象専攻
- 工学 / 機械工学・電気電子工学・土木工学・建築学・材料工学・プロセス・化学工学・総合工学 総合理工 / ナノ・マイクロ科学・応用物理学・量子ビーム科学・計算科学 情報学 / 情報学基礎・計算基盤・人間情報学・情報学フロンティア 数物系科学 / 数学・天文学・物理学・地球惑星科学・プラズマ科学 化学 / 基礎化学・複合化学・材料化学 総合生物 / 神経科学・実験動物学・腫瘍学・ゲノム科学・生物資源保全学 生物学 / 生物科学・人類学 農学 / 基礎生物学・生産環境農学・農芸化学・森林圏科学・水圏応用科学・社会経済農学・農業工学・動物生命科学・境界農学
- 勤務予定地
- 茨城県
- 備考
- 〒312-8504 茨城県ひたちなか市 市毛882番地 JR常磐線勝田駅よりタクシーで約10分
- 選考フロー・応募後の流れ
- 書類審査を実施します。応募者多数の場合のみ、加えて2次選考（電話面談）を実施します。 １．まず書類審査を実施します。結果は、マイページにてお知らせいたします。 ２．書類審査の結果、2次選考に進んでいただく方には、2次選考申し込みをしていただきます。 ３．2次選考では電話/オンラインで面談を実施いたします。結果は、マイページにてお知らせいたします。
- 応募受付期間
- 2026年5月18日(月) ~ 2026年5月31日(日)
- 実施期間
- 2026年8月24日(月) ~ 2026年9月4日(金)
- 備考
- 本インターンシップはインターン期間(土日祝を除く)すべて参加できる方を対象といたします。※実習初日は、PCお渡しの為、オンライン、対面にかかわらずインターン実習先へ出社いただきます。
- 【実習内容】SEM、TEM、FIB-SEMなどの原理ならびに、これらを用いた形態・組成・物理特性・動的挙動の評価方法を学んでもらいます。あわせて、イオンビームを用いた半導体試料の試料作製技術開発や、AIを用いた画像認識を含む撮像の自動化検討に取り組んでもらいます。先端半導体デバイスメーカーと協創活動を行っているエンジニアが指導します。半導体分野および電子顕微鏡に興味がある方は、ぜひご応募ください。 【部署紹介】我々の部署は、主に半導体デバイス解析向けの走査電子顕微鏡(SEM)、透過電子顕微鏡(TEM)、集束イオンビーム-走査電子顕微鏡(FIB-SEM)など解析システム製品の応用技術開発を行っており、設計部門の中で最もお客さまと接する設計業務を担っております。
- 求める経験、スキル、資格など
- ■必須となるスキル・経験等 PC(Windows)の基本操作、 エクセル・パワーポイントの基本操作 Pythonの基礎知識 ■あれば望ましいスキル・経験等なし
- 関連する研究キーワード
- AI Python SEM イオンビーム 画像認識 設計開発 電子顕微鏡 半導体 TEM 走査電子顕微鏡 透過電子顕微鏡 FIB-SEM 形態評価 物理特性評価 応用技術開発 組成評価 動的挙動評価 試料作製技術 撮像自動化 半導体デバイス解析 集束イオンビーム-走査電子顕微鏡
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