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28年 本採用
【28卒_設計(機械設計 or 電気回路設計 or ソフトウェア設計)職／転勤なし】
- 設計・開発職（メカ、部品等）
- 東京都
- 2026年12月31日(木) 締め切り
株式会社エリオニクス
書類選考免除交通費支給
株式会社 日立ハイテク
- 従業員数
- 15083人
- 業種
- 医療機器 / 機械 / 電気・電子機器 / 半導体・電子部品 / 専門商社
- 所在地
- 東京都港区虎ノ門一丁目17番1号 虎ノ門ヒルズ ビジネスタワー
- HP
- https://www.hitachi-hightech.com/jp/ja/
27年就職：インターン・仕事体験
設計・開発職（メカ、部品等）
【設計・開発】高速EBAC（電子ビーム吸収電流法）技術による半導体故障解析の実用性評価
- 募集職種
- 設計・開発職（メカ、部品等）
- 対象資格
- 2027年修了見込みの方 学部, 修士, 高専, 高専専攻科
- 勤務予定地
- 茨城県
- 応募受付期間
- 2025年10月24日(金) ~ 2025年11月4日(火)
- 実施期間
- 2026年1月19日(月) ~ 2026年1月30日(金)
- ナノ・プローバ（微小デバイス特性評価装置）は、最先端デバイスの故障解析に対応した、電子顕微鏡をベースとしたナノ・プロービング専用装置です。本装置は、EBAC（電子ビーム吸収電流法）機能および電気特性測定を活用した高度な故障解析を可能とする点が大きな特徴です。 【主な経験内容】 ・走査電子顕微鏡（SEM）による微細構造の観察 ・ナノ・プロービング技術を用いた微小領域への電気的アクセス ・EBAC機能を活用した故障個所の特定および評価 ・フィルタ回路における電気特性の評価・解析
- 関連する研究キーワード
- 走査電子顕微鏡（SEM） 故障解析技術 ナノ・プロービング技術 EBAC（電子ビーム吸収電流法） 微小デバイス特性評価 電気特性測定・評価
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27年 本採用
◢◤27卒向け ソシオネクスト本選考のご案内◢◤ 半導体のテスト設計に興味のある学生の皆さんを募集しています！
- 設計・開発職（メカ、部品等）
- 神奈川県, 愛知県, 京都府
株式会社ソシオネクスト
27年 インターン・仕事体験
【設計開発】電子顕微鏡の制御システム回路開発・評価体験
- 設計・開発職（メカ、部品等）
- 2026年1月19日(月) ~ 2026年1月30日(金)
- 茨城県
- 2025年11月4日(火) 締め切り
株式会社 日立ハイテク
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