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インターン・仕事体験 応募受付中
28卒夏_＜8/24〜9/4＞【測長SEMの研究開発】最先端半導体デバイスの計測に対応した走査型電子顕微鏡(SEM)の基礎特性評価および分析_42069
株式会社日立製作所研究開発職 · 28卒
株式会社日立製作所
ソフトウェア・情報処理 / 機械 / 電気・電子機器 / その他メーカー / エネルギー
28年就職：インターン・仕事体験
研究開発職
28卒夏_＜8/24〜9/4＞【計測・インフォマティクス分野】電子線と光を用いた電気特性計測技術の研究開発_50162
- 募集職種
- 研究開発職
- 対象資格
- 2028年修了見込みの方 修士, 博士
- 対象専攻
- 工学 / 機械工学・電気電子工学
- 勤務予定地
- 東京都
- 備考
- 国分寺サイト(東京都国分寺市) JR国分寺駅(東京都)
- 選考フロー・応募後の流れ
- 選考フローは(1)書類審査(2)オンライン面談(Zoom)です。 書類審査に合格された方には、オンライン面談についてご案内いたします。 面談は原則6/13(土)、15(月)、16(火)に実施いたしますので、該当日程は出来る限り予定を空けて頂けますと幸いです。 選考結果はマイページにてお知らせいたします。 ★研究開発グループでは様々な分野・テーマでインターンを募集しています。ご自身の関心に応じ、ぜひ複数テーマへの応募もご検討ください。
- 応募受付期間
- 2026年5月18日(月) ~ 2026年5月31日(日)
- 実施期間
- 2026年8月24日(月) ~ 2026年9月4日(金)
- 備考
- 本インターンシップは2週間(土日祝を除く各日8:50～17:20を予定)すべて参加できる方のみを対象と致します。 *原則出社にてインターンシップを実施いたします。
- 【テーマ背景】 近年、情報化社会を支える半導体デバイスの重要性が様々な分野で増加しています。 特にデバイスの高性能化に伴い、通常の検査計測では捉えられない欠陥(invisible欠陥)が製品歩留まりに与える影響が年々厳しいものとなっています。 我々は、電子線と光を用いてinvisible欠陥を計測する電子線検査計測装置を開発しています。 【テーマ内容】 本インターンシップでは,電子線検査計測装置の新規計測技術に関する研究開発を行って頂きます。 【携わる事業・ビジネス・サービス・製品】 半導体デバイス製造の計測装置・検査装置ビジネス https://www.hitachi-hightech.com/jp/ja/p... 【テーマの魅力・やりがい】 半導体製造は半導体デバイスの高性能化に向けて、様々な新技術が試されており、付随した計測技術の確立が不可欠です。本テーマでは最先端の材料/構造のインライン電気特性計測を実現すべく、電子線検査計測装置による模擬サンプルの電気特性測定手法の構築に従事して頂きます。最先端の半導体製造における課題解決の研究開発を体験して頂けます。
- 求める経験、スキル、資格など
- ■必須となるスキル・経験等 ・半導体デバイス評価の知識 ■あれば望ましいスキル・経験等・電子顕微鏡の使用経験 ・真空処理装置の基礎知識 ・光学設計の基礎知識
- 関連する研究キーワード
- SEM レーザ デバイス評価
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本募集情報は企業によって入力された内容を基に掲載しております。内容に関するお問い合わせ はLabBase事務局までご連絡ください。
